Advanced Materials Characterization

Autor Ch Sateesh Kumar, M. Muralidhar Singh

Advanced Materials Characterization - Ch Sateesh Kumar,M. Muralidhar Singh Nedostupné

Advanced Materials Characterization

Autor Ch Sateesh Kumar, M. Muralidhar Singh

0.0 z 5 hvězdiček 0 hodnocení čtenářů

Kniha ( měkká vazba )

    • Produkt je nedostupný.
E-shopové listy

Při zaslání zboží balíčkem

K nákupu nad 99 Kč dárek zdarma v hodnotě 19 Kč

E-shopové listy

Let na měsíc

Při zaslání zboží balíčkem

K nákupu nad 999 Kč dárek zdarma v hodnotě 299 Kč

Let na měsíc

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. It explores the techniques implemented for advanced materials like superalloys, thin films, powders, nanocomposites, polymers, shape memory alloys, high entropy… Přejít na celý popis

Nocticadia Starobylá elitní univerzita plná tajemství, touha po odhalení záhady smrtelné choroby a zakázaná přitažlivost v nové gotické dark romance. Více informací

K tomuto produktu zákazníci kupují

Popis Hodnocení 0.0 z 5 hvězdiček 0 Vývoj ceny

Popis

The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. It explores the techniques implemented for advanced materials like superalloys, thin films, powders, nanocomposites, polymers, shape memory alloys, high entropy alloys, and so on. Major instruments covered include X-ray diffraction, near-field scanning optical microscopy Raman, X-ray photospectroscopy, ultraviolet-visible-near-infrared spectrosphotometer, Fourier-transform infrared spectroscopy, differential scanning calorimeter, profilometer, and thermogravimetric analysis.

Features:

Covers material characterization techniques and the development of advanced characterization technology Includes multiple length scale characterization approaches for a large variety of materials, from nano- to micron-scale, as well as their constraints Discusses advanced material characterization technology in the microstructural and property characterization fields Reviews both practical and theoretical explanations of approaches for characterizing microstructure and properties Offers fundamentals, basic instrumentation details, experimental approaches, analyses, and applications with case studies

This book is aimed at graduate students and researchers in materials science and engineering.

Sdílet

autoři
Ch Sateesh Kumar | M. Muralidhar Singh
kategorie
Knihy » Cizojazyčná literatura » English literature
Témata
Nakladatel
Taylor & Francis Ltd
Rozměr
234 x 156 x 11
jazyk
angličtina
Vazba
měkká vazba
Hmotnost
238 g
isbn
978-1-03-237511-3
Počet stran
130
datum vydání
29.11.2024
ean
9781032375113

Hodnocení a recenze čtenářů Nápověda

0.0 z 5 0 hodnocení čtenářů

0× 5 hvězdiček 0× 4 hvězdičky 0× 3 hvězdičky 0× 2 hvězdičky 0× 1 hvezdička

Přidejte své hodnocení knihy

Načíst další hodnocení

Zobrazit všechna hodnocení

Přidat hodnocení

Vývoj ceny

Vývoj ceny Nápověda

Získejte přehled o vývoji ceny za posledních 60 dní.

Maloobchodní cena Minimální prodejní cena: 0 Kč Nápověda

Články, které stojí za pozornost

Zobrazit blog

Články, které stojí za pozornost